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材料成分分析测试仪器汇总
1、拉曼散射光谱仪(RAMAN)通过检测光散射频率的变化,确定物质分子结构。适用于固体、液体、气体、有机物、高分子等材料成分分析,应用领域广泛。火花直读光谱仪通过电弧高温使样品气化并激发发光,进行金属成分快速测定。红外碳硫分析仪通过试样通氧燃烧分离碳硫元素,快速准确分析碳硫含量。
2、X射线荧光光谱仪 这款光谱仪是材料成分的精准鉴定者,无论是定性还是定量,都能准确揭示材料的秘密配方。 热分析仪 热分析仪家族包括TG、DTA和DSC,它们联手揭示材料的热性能,如熔点、分解温度等,为研发和质量控制提供有力数据支持。
3、红外光谱仪(Infrared spectrometer,IR)是根据物质对不同波长红外辐射的特定吸收特性,进行分子结构与化学成分分析的科学仪器。当样品接受红外光照射时,样品分子吸收特定波长,引发分子偶极矩变化,实现从基态到激发态的能级跃迁,形成红外光谱。常见分子振动模式如对称伸缩、反对称伸缩和摇摆振动等。
纳米材料粒度测试方法大全
电子显微镜法是对纳米材料尺寸、形貌、表面结构和微区化学成分研究最常用的方法,一般包括扫描电子显微镜法(SEM)和透射电子显微镜法(TEM)。对于很小的颗粒粒径,特别是仅由几个原子组成的团簇,采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法、最大交叉长度平均值法、粒径分布图法等。
测粒度分布的有:筛分法、沉降法、激光法、电感法(库尔特)。测比表面积的有:空气透过法(没淘汰)、气体吸附法。直观的有:(电子)显微镜法、全息照相法。显微镜法(Microscopy)SEM、TEM;1nm~5μm范围。适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。
超声波法是通过不同粒径颗粒对超声波产生的不同影响来测量粒度分布。这种方法可以直接测试高浓度的浆料,是一种较新的技术。动态光散射法主要用于测量纳米材料的粒度分布。它利用颗粒在液体中受布朗运动影响而产生的随机运动状态,通过相关技术识别这些运动状态来得到粒度分布。
透射电镜法:透射电镜是一种直观、可靠的绝对尺度测定方法,对于纳米颗粒,它可以观察其大小、形状,还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度,显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计,分门别类给出粒度分布。如果将颗粒进行包埋、镶嵌和切片减薄制样,还可以对颗粒内部的微观结构作进一步地分析。
XRD线宽法:一般可通过XRD图谱,利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。激光粒度分析法:测量精度高,测量速度快,重复性好,可测粒径范围广以及可进行非接触测量等。
材料的表征方法有纳米粒子的XRD表征、纳米粒子透射电子显微镜及光谱分析、纳米粒子的扫描透射电子显微术、纳米团簇的扫描探针显微术、纳米材料光谱学和自组装纳米结构材料的核磁共振表征。
最全的材料形貌表征、化学成分表征、结构表征
1、电子探针(EPMA):型号EPMA-1720,主要功能为无机材料的微结构与微区组成分析,以及成分与结构的表征。 原子力显微镜(AFM):型号Veeco(Multimode)、日本岛津SPM9700、MFD-3D Classic与布鲁克Dimension icon,用于获得材料表面原子间作用力分布信息,以纳米级分辨率提供表面形貌与粗糙度信息。
2、微观形貌与成分分析 - **SEM** (扫描电子显微镜):作为基础工具,它提供了三维形貌的直观观察,以及微区成分的精确分析。**SEM** 的强大之处在于其对非导电样品的适应性,例如±20°C固相相变的观察,以及C-U元素的定性和定量检测。
3、材料结构表征的基本方法有X射线衍射法、热分析法、电子显微分析法等,表征是一个心理学术语,具体指的是客观实体在人的一个认知环境中的描述或再现。常用材料表征手段: 微观形貌:形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成分和物相结构等方面。
4、形貌表征:SEM用于表面形貌和粗糙度检测;TEM观察微观结构,有高分辨能力;AFM用于观察纳米级表面。晶体结构表征:XRD提供晶体结构信息;EXAFS研究局部结构;中子衍射适用于锂离子探测;NMR研究化学信息和成像。...(其他技术详解省略)这些技术共同揭示材料的微观世界,确保电池性能的全面了解。
5、表征是一个心理学术语,指客观实体在人的认知环境中的描述或再现。材料表征,即通过相关的性能指标、结构形貌、组成等信息,较完整准确地描述或再现某种材料。通俗地说,你面前有一块砖,根据对这块砖的表征,任何没有见过这块砖的人,能够从众多不同材料中区分出这块砖。
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