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本文目录一览：

• 1、扫描电子显微镜如何用于纳米尺寸材料的研究和铁电畴的观测?
• 2、纳米检测技术是什么?
• 3、纳米材料粒度测试方法大全

扫描电子显微镜如何用于纳米尺寸材料的研究和铁电畴的观测?

纳米尺寸研究纳米材料的特殊性源于其纳米级别的尺寸，而扫描电子显微镜因其简便的操作和高分辨率，成为观察和检测纳米材料形貌及尺寸的首选。结合透射电子显微镜和扫描隧道显微镜，SEM甚至可以升级为超高分辨率的设备，如图2所示的纳米钛酸钡陶瓷，其晶粒尺寸平均为20nm。

- 分辨率高，介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3纳米。- 电子束对样品的损伤和污染程度较低。- 观察形态的同时，还可以利用样品发出的其他信号进行微区域成分分析。

能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。样品制备过程简单，不用切成薄片。样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。

技术，但高分辨率的扫描电子显微镜在纳米级别材料的形貌观察和尺寸检测方面因具有简便、可操作性强的优势被大量采用。另外如果将扫描电子显微镜与扫描隧道 显微镜结合起来，还可使普通的扫描电子显微镜升级改造为超高分辨率的扫描电子显微镜。图 2所示是纳米钛酸钡陶瓷的扫描电镜照片，晶粒尺寸平均为 20nm。

尽管多年来研究者们开发出多种方法来研究铁电畴，如偏光显微镜等，但这些方法仍存在局限。例如，样品的制备可能破坏原始的畴结构，或者成像分辨率无法达到纳米级别，这些因素都妨碍了对铁电体纳米尺度物性的深入理解。 扫描力显微镜（sFM）是一种基于原子力显微镜技术的新型显微仪器。

纳米检测技术是什么?

纳米检测技术是利用纳米材料独特的理化性质发展而来的检测技术。如量子点标记抗体用于细胞的荧光成像、免疫磁珠用于细胞的分离等。

纳米检测技术是一种应用纳米材料和纳米技术原理来检测和测量极小尺度物质或现象的技术。这种技术利用了纳米级别的物质独特的物理、化学和生物学特性，为科学研究和实际应用提供了新的手段和工具。纳米检测技术的核心在于其极高的灵敏度和分辨率。

纳米测量技术是利用改制的扫描隧道显微镜进行微形貌测量，这个技术已成功的应用于石墨表面和生物样本的纳米级测量。国外于1982年发明并使其发明者Binnig和Rohrer（美国）荣获1986年物理学诺贝尔奖的扫描隧道显微镜（STM）。

纳米材料粒度测试方法大全

电子显微镜法是对纳米材料尺寸、形貌、表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径， 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法、最大交叉长度平均值法、粒径分布图法等。

测粒度分布的有：筛分法、沉降法、激光法、电感法(库尔特)。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）、气体吸附法。直观的有：(电子)显微镜法、全息照相法。显微镜法(Microscopy)SEM、TEM；1nm～5μm范围。适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。

筛分法，显微镜法。筛分法：筛分法是一种最传统的粒度测试方法，也是过去最常用的方法，它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。显微镜法：测量与实际颗粒投进面积相同的球形颗粒的直径即等效投影面积直径，包括显微镜、CCD摄像头(或数码像机)、图形采集卡、计算机等部分组成。

纳米颗粒粒径大小可以用TEM、SEM等技术测量 粒径分布可以采用DLS、原子力显微镜、梯度离心、电泳等方法 比表面积可以BET的方法。

透射电镜法：透射电镜是一种直观、可靠的绝对尺度测定方法，对于纳米颗粒，它可以观察其大小、形状，还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度，显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计，分门别类给出粒度分布。如果将颗粒进行包埋、镶嵌和切片减薄制样，还可以对颗粒内部的微观结构作进一步地分析。

纳米材料有哪些指标可以考虑用化学法测定 XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。

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